高真空分析型扫描电子显微镜(High vacuum analysis of scanning electron microscopy)
北京科技大学
日本电子,JSM-6510A
北京市
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检测范围

二次电子像,背散射像,成分分析

仪器参数

电镜分辨率3.5nm;能谱分辨率139ev
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