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半导体特性分析仪
所在单位：	西安交通大学
品牌/型号：	KEITHLEY，I-V,C-V4200-SCS/82-WIN
所在地区：	陕西省
仪器说明：	我们目前尚未与西安交通大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

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仪器介绍

检测范围

4200－SCS含内置式WindowNT操作系统，交互式测试环境（KITE）支持多探针台和高频及准静态CV测试，用前置放大器，SMU可分辨到100aA电流，4200－590CV仪可测100KHz和1MHz的CV特性，方便多种半导体MOS/MS结构相关工艺参数的测试半导体材料(掺杂浓度分布、杂质浓度）、半导体

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