连续电导率剖面仪(Continuous conductivity profiler)
中国地质大学(北京)
GEOMETRICS,EH-4
北京市
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检测范围

通过张量测量反演X-Y电导率张量成像剖面,能有效的判断二维构造

仪器参数

观测10Hz~kHz

仪器特色&服务特色

井地物探技术
综合找矿方法研究
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