扫描探针显微镜(无)
中国石油大学(北京)
美国Veeco Instruments Company,*
北京市
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检测范围

原子力显微镜 (AFM)扫描模式扫描隧道显微镜(STM)扫描模式,1 接触式模式 (Contact Mode), 2 侧向力模式 (Lateral Force Mode, LFM)

仪器参数

纵向分辨率:可持续稳定得到原子级分辨率。用原子力显微镜(AFM)模式石墨样品进行5-10nm范围的扫描成像,测量图像中石墨的台阶高度值,以此值来表征仪器的纵向分辨率;要求测量值在:0.30-0.38nm范围内
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