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扫描微区X射线光电子能谱仪
北京理工大学
日本/ULVAC-PHI，INC，PHI QUANTERA-II SXM
北京市
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检测范围

样品表面元素组成和价态分析；对样品表面选定的区域可以进行线，面的XPS扫描，得到样品表面各种元素的分布以及某种元素不同化学状态的分布；使用离子束轰击气化的C60蒸气，得到C60离子束。

仪器参数

可用于测定聚合物、金属及无机非金属材料表面微区（微米级）界面性质的表征及整体较大尺寸构件的大面积结构性能。
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