冷场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
中山大学
日本电子,JEM-6330F型
广东省
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检测范围

冷场发射扫描电子显微分析

仪器参数

分辨率:1.5nm  放大倍数:x10 ~ x500,000 样品尺寸:

仪器特色&服务特色

近几年为中山医附属三院进行载药微球的微观形貌分析;为口腔医院进行牙齿、钛片、细菌的微观形貌观察。
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