X荧光光谱仪(台式能量色散)
国家地质实验测试中心
SPECTRO公司,XEPOS
北京市
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检测范围

主要用于岩石、土壤、河(湖、海)沉积物、矿石、矿物等样品中多种元素的定量分析工作--采用粉末压片法可分析30种以上主次痕量元素。还用于各种在研标准参考物的均匀性检查工作。

仪器参数

分辨率:≤160eV,最大功率 50W
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