等离子体化学沉积系统(PECVD)
北京理工大学
英国牛津公司,PLASMALAB SYSTEM 100
北京市
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检测范围

制备SiO2,Si3N4,SiON,a-Si:H,Poly Si等,主要用于薄膜显示,光伏,传感,探测等光电子器件研究

仪器参数

氧化硅:沉积速率>40nm/min,片内厚度不均匀性5MV/cm
氮化硅:沉积速率>10nm/min,片内厚度不均匀性5MV/cm
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