卧式LPCVD系统
重庆大学
北京七星华创电子股份有限公司,L4110Ⅱ-3/ZM2~4英寸
重庆市
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检测范围

淀积多晶硅、二氧化硅、氧化硅等薄膜材料

仪器参数

淀积薄膜厚度600A-20000A,极限真空优于1Pa,淀积薄膜片内均匀性:Si3N4±3%;多晶硅±4%,SiO2±3%

仪器特色&服务特色

服务于973.863等项目
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