高分辨场发射透射电子显微镜-测试100仪器共享平台

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高分辨场发射透射电子显微镜(无)
所在单位：	同济大学
品牌/型号：	日本电子株式会社，JEM-2100F\|\| \|\|*
所在地区：	上海市
仪器说明：	我们目前尚未与同济大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

所有仪器

应用于金属材料、高分子材料、纳米材料等的显微结构、晶粒形貌、晶体缺陷、纳米颗粒大小形态、界面结构、高分辨晶格像以及微区成分分析等

加速电压：200 kV
点分辨率：0.19nm
晶格分辨率：0.10nm
STEM分辨率：0.20nm
放大倍数：2 ~ 1500K
样品最大倾角：±25°
能谱仪：4Be ~ 92U

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