检测范围
场发射扫描电子显微镜主要用于材料表面的微观形貌的高分辨观察，得到样品的表面形貌信息。
仪器参数
设备性能主要技术指标： 1. 二次电子分辨率：1.0 nm (加速电压 15 kV)；2.0 nm (加速电压 1 kV)(标准模式)；1.3 nm (加速电压 1 kV)(减速模式) 2. 放大倍数：低倍模式, ？30 到 ？2k；高倍模式, ？100 到 ？300k 3. 电子光学：3.1 加速电压：0.5 - 30 kV, 3.2 着落电压：0.1 到 2 kV ,3.3 透镜系统：3级电磁透镜系统
仪器特色&服务特色
“新颖三明治状双层石墨烯包覆纳米粒子的复合结构的设计合成以及储锂协同增强效应的研究”
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