高低真空扫描分析电子显微镜(Analytical High/low Vacuum Scanning Electron Microscope)
中山大学
日本电子株式会社,JSM-6380LA
广东省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

纳微观测和分析

仪器参数

高真空分辨率:3.0nm in SEI、4.0nm in BEI;低真空分辨率:4.0nm in BEI;放大倍数:x8-x300000;加速电压:0.5~30kV;放大倍数误差:8%

仪器特色&服务特色

支撑重大项目:二氧化碳共聚物合成及材料研究、二氧化碳全降解塑料的加工与应用研究
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