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扫描电镜(SEM)
黄山学院
日立，S-3400N
安徽省
我们目前尚未与黄山学院提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：

检测范围

纳米材料、复合材料、陶瓷材料、金属材料、高分子材料、薄膜材料、建筑材料、生物材料、电子材料、导体与非导体、地矿、考古等表面微观形貌观察及成分分析。

仪器参数

SE分辨率：3.0 nm (30 kV)，高真空模式；10 nm (3 kV)，高真空模式；BSE分辨率：4.0 nm (30 kV)，低真空模式；放大倍率：×15～×300,000；加速电压：0.3～30 kV。
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