电子探针(Electron Probe MicroAnalyzer)
东华理工大学
JEOL,JXA-8100
江西省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

二次电子像(SEI)、背散射电子像(BEI)、X射线象(X-ray)、定性分析、定量分析、线分析、面分析

仪器参数

1.微区、微量、原位定量分析(在微米范围内的检测极限可达0.01%)
2.简便、快速、不损坏样品
3.适用范围宽,分析元素范围为5B-92U
4.有多种分析方式:可以进行表面形态分析、定性分析、定量分析、线分析和面分析
5.空间分辨率高,仪器放大倍数最大为30万倍,图像分辨率最高可达纳米级。
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