发射扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
海南大学
日本 日立,S-4800
海南省
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检测范围

1. 观察块状金属、非金属固体材料、纤维、薄膜的表面或断面微区的形貌; 2. 微粒或纤维形状的观察及尺寸分析; 3. 材料及电子器件失效分析的测试 4. 微区元素定性、定量分析。

仪器参数

加速电 压:0.5~30 kV 二次电子分辨率:1.0nm (15KV); 2.0nm (1KV); 1.4 nm (1KV, 减速模式)。放大倍率:×20~×800000 Mn元素Kα处的分辨率129eV

仪器特色&服务特色

“流动沙丘的固定和绿化用新材料、新结构及其野外实践效果研究”、“高温气固分离陶瓷过滤管材的研制与应用”分别获得2010年、2012年海南省科技进步奖一等奖。
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