场发射扫描电子显微镜(Field Emission Scanning Electron Microscope)
宁波工程学院
日本日立公司,S-4800
浙江省
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所有仪器

分析仪器

检测范围

用于观察表面的微观形貌、断口及内部组织,并对表面微区成分进行定性和定量分析

仪器参数

1) 二次电子像分辨率:优于1.0 nm / 15kV,优于1.7 nm / 1kV;2) 背散射电子像分辨率:优于2.5nm / 30kV;3)能谱仪分辨率: MnKa处优于129eV (计数率为20000cps)

仪器特色&服务特色

服务校内外科研工作,支持多个国家、省、市级科研项目,发表多篇高水平SCI论文。
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