扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
桂林理工大学
日本电子株式会社(JEOL),JSM6380-LV
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检测范围

材料显微形貌分析、微区化学成分分析

仪器参数

最大放大倍数:30万倍;分辨率:3nm;能谱仪分析元素范围:Be4—U92
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