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场发射透射电子显微镜
厦门理工学院
FEI，FEI Talos F200S
福建省
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分析仪器

检测范围

在微观乃至原子尺度上分析固态材料的形貌、结构与化学成分。在材料科学的各个分支，包括陶瓷、金属、高分子等领域均有广泛的应用，尤其适合分析纳米材料。

仪器参数

加速电压：200KV
电子枪：S-FEG 肖克利场发射电子枪
TEM点分辨率：优于0.25nm
TEM线分辨率：优于0.14nm
HAADF-STEM分辨率：优于0.16nm
STEM探头：1BF+2ADF+1HAADF
样品倾转角度：α(±30°); β(±20°)
能谱：FEI Super-X EDS系统，无窗双探头SDD
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