场发射扫描电镜(FE Scanning Electron Microscopy)
上海化工研究院
ZEISS,merlin compact
上海市
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检测范围

用于各种材料的形貌观察、元素组成和分布测试,如金属、纳米颗粒和粉末、多孔物质、电子器件、陶瓷、有机高分子材料、晶体材料、各类薄膜材料、催化剂材料等物质。

仪器参数

电镜分辨率:  0.8 nm @ 15kV, 1.6 nm @ 1kV能谱仪分辨率: Mn Ka≤127eV, C Ka≤54eV

仪器特色&服务特色

支撑国家重点实验室、上海科委重点攻关项目、上海市重点实验室、工程技术研究中心、专业技术服务平台等基地建设
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