SEM-扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope)
埃文思材料科技(上海)有限公司
HITACHI,S-4800
上海市
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检测范围

用于半导体或非导体材料的表面形貌分析外加IXRF system,可做EDX分析

仪器参数

分辨率0.1nm
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