红外仪(infrared thermography)
上海半导体照明工程技术研究中心
NEC,H2604
上海市
我们目前尚未与上海半导体照明工程技术研究中心提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过 点击此处 提交需求,委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试,我们将为您提供以下保障:

检测范围

红外热像仪是利用红外探测器和光学成像物镜接受被测目标的红外辐射能量分布图形反映到红外探测器的光敏元件上,从而获得红外热像图,这种热像图与物体表面的热分布场相对应。

仪器参数

温度测量范围 -40-500℃,温度分辨率 ≤0.06℃(在30℃,30Hz时) ≤0.03℃(在30℃,Σ64时),精度 :±2℃或读数的±2%,工作波长:8-13μm,空间分辨率 :0.6 mrad,焦距:30cm,D∞,视域 :21.70o(H)×16.40o(V),帧频 :30帧/秒,热图像像素:640(H) ×480(V)像素 辐射率改正:0.10至1.00可选(每步0.01)
如果找不到合适的仪器,您可以提交您的需求,由我们帮您匹配最优的服务商 提交需求