金相切片显微系统(Cross-section and Microscope system)
上海华碧检测技术有限公司
日本,BX51M
上海市
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检测范围

高景深显微观察/电子产品

仪器参数

高倍数,暗场观察,配有测量软件,可对感兴趣部位进行长度测量
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