超高分辨率场发射扫描电子显微镜(SEM)(SEM)
中国地质大学(武汉)
日本日立公司,SU8010
湖北省
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检测范围

广泛应用于物理、化学、生物、地学、矿物、金属、半导体、陶瓷、高分子、复合材料、纳米材料等领域的研究和产品检验。 测试项目 ① 地质样品分析,岩石矿物学研究,微体生物结构及种属确定;煤及干硌根分析; ② 材料表面结构分析:块状金属、非金属固体材料、纤维、薄

样品要求

① 干燥的固体样品;
② 样品无磁性、无挥发性、无腐蚀性、放射性等对设备和人员产生损害的样品。
上述①②两项必须同时具备,方可测试。

仪器参数

高分辨率场发射扫描电子显微镜SU8010,在使用1kv减速功能后,分辨率提升到1.3nm,能对各种固态样品表面形貌的二次电子像、反射电子像观察及图像处理。可对金属、陶瓷、矿物、岩石、生物等样品以及各种固体材料进行观察和分析研究。电镜配有高性能X-射线能量色散谱仪,简称能谱仪(EDS),能在不损坏样品同时进行样品表层的微区点线面元素的定性、半定量及定量分析,具有形貌、化学组分综合分析能力。

主要技术指标:
① 加速电压:0.1~30 kV
② 观测倍率:20~1,200,000  
③ 二次电子分辨率:1.0nm(加速电压15kV),1.3nm(加速电压1kV)
④ 工作距离:0.5~30mm

主要附件:X-射线能量色散谱仪,简称能谱仪(EDS),探测元素范围Be4-U92
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