检测范围
可以对各种固体样品进行微区形貌、微区结构及微区成分分析研究。如超显微包体、出溶体等物相鉴定，晶胞参数、点群及空间群测定，晶体形态、粒度、界面及缺陷观察等。在材料科学、矿物学、岩石学、矿床学、构造地质学及生物医学等领域都有广泛的应用。
样品要求
（1）粉末样品粒度最好在微米量级至纳米量级。
（2）如果是预先分散好的样品，本实验室不对制样的质量负责，重复制样需要按次数收取制样费。相应的机时费也不能减免。
（3）如果因为样品粒度太大导致测试无结果，需要收取制样费和1小时的起步机时费。
（4）因为磁性粉末样品极容易被吸附到物镜极靴上，损害电镜的图像分辨率，所以原则上谢绝测试磁性粉末样品。对于少量确实急需测试的磁性粉末样品，需报请仪器负责人批准后方可测试，并按特殊标准收费。
（5）磁性粉末样品不得冒充非磁性粉末样品进行测试，一旦发现将按磁性样品标准的2倍收取测试费。
（6）送样人自己事先制备的“非磁性”透射电镜粉末样品，必要时需要加收分析确认费用（如X射线能谱分析及电子衍射物相分析费用）。
（7）由于离子减薄制样费工费时，且制样成功率受多种因素影响，尤其是一些样品本身的因素，如硬度太大、太脆导致磨样、裁样及凹坑等过程中极易产生大量可见和不可见的裂纹，从而导致离子减薄制样失败，需要重新制备。失败样品的损失，送样人和本实验室各承担50%。
仪器参数
性能指标：
加速电压：120KV
点分辨率：0.34nm
线分辨率：0.20nm
放大倍数：31×~ 820,000×
制样设备：
Gatan 656型凹坑仪
Gatan 600型离子减薄仪
JEOL JEE-4 X型真空镀膜仪
主要附件：
EDAX PV9100 X射线能谱仪
Gatan 830型CCD图像系统，可以拍摄数字化图像及电子衍射花样。
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