检测范围
在仪器上集多领域手段于一体的显微成分、显微形貌、显微结构和显微织构的现代化显微分析系统。
仪器参数
仪器介绍:用于扫描电镜的电子背散射衍射分析系统OIM / EBSP，以及用于扫描电镜的电子背散射衍射相鉴定分析系统Delphi – Phase ID。OIM Data Collection 用来采集和分析扫描电镜中的电子背散射衍射(EBSD)花样的一套功能非常强大的集成工具包。在交互模式和自动模式下都可以采集晶体取向数据，十分方便地满足任何现代材料科学、材料表征或地质科学实验室的需求。
技术参数:
像素分辨率达1300×1024以上
计算机控制的衍射花样收集模式
4096灰度级别
角度分辨率优于0.5°
相鉴定功能：包揽七大晶系，具有最大的相鉴定数据库
技术特点:
采用六方网格采样自动完成OIM扫描，进行晶体学/织构分析功能，如晶粒，晶界分析；应变形变分析等。
能同时采集X射线(成分)与结构(OIM/EBSP)信号（快速相鉴定的必要条件）
与SEM一体化，直接采集、显示和处理电子像。
三重表决(voting)的专利指标化程序。
含有广泛的分布图、图表、绘制图和交互分析工具的OIM扫描数据综合分析软件。
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