检测范围
广泛应用于物理、化学、药物学、冶金学、高分子材料、生命科学及材料科学。可以分析黏土矿物、合金、陶瓷、食品、药物、生物材料、建筑材料、高分子材料、半导体材料、超导材料、纳米材料、超晶格材料和磁性材料的物相鉴定，材料可以是单晶体、多晶体、纤维、薄膜等片状、块
仪器参数
仪器介绍:X'Pert PRO X射线衍射仪采用陶瓷χ光管、DOPS直接光学定位传感器精确定位和最优化的控制台及新型窗口软件。采用模块化设计，可针对不同的要求采用最优的光学系统，从而得到最佳的实验数据，达到最高的实验效率。
主要附件：高、低温附件（室温至1600°；-193°~450°）；多功能样品台（可放直径100mm，高度100mm尺寸内的最大载重1KG的样品）；薄膜附件。
技术参数:
χ射线发生器： 最大功率：3KW最大管压：60KV最大管流：60mA
陶瓷χ光管： 最大功率：2.2KW（Cu靶）最大管压：60KV最大管流：55mA
测角仪： 扫描方式：θ/θ或2θ/θ模式角度重现性：±0.0001°(空载)
探测器： 正比探测器：99%线性范围1×106cps，最大背景≤0.2cps ；半导体阵列探测器：最大计数率4×106cps，99%线性范围1×106cps，最大背景≤0.1cps
技术特点:
预校准光路全模块化,不同光路系统及各种样品台等附件均可以在几分钟内实现高精度的更换。X'Celerator超能探测器接收效率、灵敏度、稳定性高。配备相应软件及PDF-2国际粉末衍射数据库，可进行物相定性定量分析，点阵参数测定，晶粒大小/微观应力分析，残余应力分析及薄膜分析。
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