台阶仪 轮廓扫描/表面粗糙度扫描/翘曲度测量(Profilometer)
100
3个工作日
广东省
检测项目:
  • 台阶形貌/粗糙度
检测条件:
  • 常规条件
- +
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服务保障
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  • 品       牌: Bruke 型       号: Dektak XT
  • 样品回收: 收费回寄 前置处理: 不支持样品处理
  • 检测项目:
    台阶形貌/粗糙度
  • 检测条件:
    常规条件

检测范围

台阶仪是一种将曲率半径很小的探针和样品表面进行接触,移动探针,测量接触力量的变化,调整探针的高度,从而得到样品的表面形貌。通过该测试,可以得到探针移动路径上样品的表面起伏数据,从而分析出样品的表面粗糙度、翘曲程度等信息。 设备广泛应用于:触摸屏、半导体、太阳能、超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学、高校、研究所、微电子、金属等行业实现纳米级表面形貌测量 ● 台阶轮廓扫描 ● 表面粗糙度扫描 ● 样品翘曲度测量

样品要求

薄膜样品

仪器参数

●扫描长度: 50?m-55mm  
   ● 垂直测量范围: 1mm  
   ● 台阶高度重现性5?, 1σ 在1?m台阶上  
   ● 垂直分辨率:最大1?(6.5?m范围)  
   ● 探针压力:1-15mg 最小可达0.03mg  
   ● 探针曲率半径:0.2 um ,2um  
   ● 样品台尺寸:4英寸,6英寸,8英寸

仪器特色&服务特色

可提供专用的分析测试软件进行数据分析
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