X射线光电子能谱仪(XPS)
可测磁性样品
岛津 Kratos AXIS Ultra DLD
5个工作日
所在地区
  • 黑龙江省
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检测范围

主要功能:利用光电效应的原理,测量辐射源(光子、电子、离子等)从样品上打出来的光电子的动能、强度及其角分布,从而研究原子、分子、聚集相,尤其是固体表面的电子结构等。 应用范围:用于各种有机和无机固体材料的表面元素和其价态的定性、定量分析,表面元素的化学成像及深度剖析。

样品要求

粉末样品,薄膜/片状样品5*5*3mm以内,磁性样品请务必注明

仪器参数

1. 大束斑slot模式下能量分辨率:优于0.48 eV/(Ag 3d5/2)@400 kcps;

2. 最小15μm分析区域下能量分辨率:优于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@0.65 kcps;

3. 110μm分析区域下能量分辨率:优于0.50 eV/(Ag 3d5/2)@75 kcps;

4. 荷电中和系统:优于0.68 eV/(PET上O-C=O的C 1s)@15 kcps;

5. 空间分辨率:优于3 μm。

样品测试效果图

测试效果图 测试效果图

仪器特色&服务特色

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