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椭偏仪(ELL)
HORIBA France SAS
3个工作日
所在地区
  • 山东省
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服务保障

所有仪器

分析仪器

检测范围

用于测量单层或多层薄膜厚度d，单层或多层薄膜各层光学常数的测量，如折射率n 及消光系数k。

样品要求

膜厚度在10um以内，样品尺寸不限

仪器参数

测试波长范围200-2000nm

样品测试效果图

测试效果图

仪器特色&服务特色

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