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X射线粉末衍射仪
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X射线粉末衍射仪
所在单位:
浙江师范大学
品牌/型号:
荷兰飞利浦公司,PW 3040/60
所在地区:
浙江省
仪器说明:
我们目前尚未与
浙江师范大学
提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过
点击此处
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仪器介绍
检测范围
可对固体样品的物相结构进行定性、定量分析,能在控制气氛和程序控温条件下现场原位分析物质结构的变化。水平放置样品,可对微量样品进行测试;全计算机化的操作控制,功能强大的数据分析软件。X Celerator Detection system 超能检测器的配备,可使录谱强度与正比计数器相比
仪器参数
1. 射线源:Cu靶,2θ角扫描范围:0.2–150°, 测角仪精确度:0.001°。 2. Anton Paar TCU 750原位样品室控温范围:室温至900℃,控制精度:0.1℃。
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