X射线衍射装置(X-ray diffraction apparatus)
北京印刷学院
Japan Rigaku Corporation,D/max-2200PC
北京市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

广泛应用于各种材料结构分析,如金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料。可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品。对无机材料以及部分高分子多晶体材料进行定性、定量分析,对固体材料进行择优取向分析以及残余应力分析

仪器参数

温度范围:RT ... 1000℃;升温速率:0 … 100 K/min;冷却时间:20 分钟(1000℃ ... 100℃);宽广的称重范围:最大 2000mg;天平解析度:0.1 μg;测量气氛:惰性,氧化,静态,真空...;气体流量调整与自动切换;气密性设计,可抽真空;20 个样品位的自动进样器(选件)
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