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场发射透射电子显微镜(FIELD-EMISSION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)
北京大学
FEI，Tecnai F30
北京市
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分析仪器

检测范围

0.2 nm以上范围内的形貌、结构、电子态、元素成分分析等，广泛应用于物理学、化学科学、材料科学、地质等领域样品的微观组织、结构、电子态、成分等的科学研究。

仪器参数

该场发射电子显微镜配有能谱、能量损失谱、高角环形暗场探头、电子全息探头等附件

仪器特色&服务特色

先进材料性能与结构演化间关系的现代表征方法及科学问题的研究,透射电镜操作培训，电子显微学实习课
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