日立高分辨扫描电子显微镜(SCANNING ELECTRON MICROSCOPE)
北京大学
HITACHI,S-4800
北京市
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所有仪器

分析仪器

检测范围

用于材料表面形貌观察以及微区化学元素成分分析

仪器参数

加速电压0.5-30KV;高加速电压 15KV,二次电子图像分辨率 1nm ;低加速电压,二次电子图像分辨率2nm;低倍模式放大倍数 30x-2000x ;高倍模式放大倍数100x-800000x。

仪器特色&服务特色

973计划、863计划、国家自然科学基金等30多项
已授权专利:白树林、张杨飞,一种粒子填充导电热塑性高聚物的制备方法 已授权专利:白树林、张杨飞,基于碳纳米管阵列和低温共烧陶瓷的散热装置及制备方法
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