聚焦离子束双束系统-测试100仪器共享平台

聚焦离子束双束系统(Focused Ion Beam Syscem)
所在单位：	南京理工大学
品牌/型号：	德国蔡司，AURIGA
所在地区：	江苏省
仪器说明：	我们目前尚未与南京理工大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器，建议您联系相关单位，以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交需求，委托我们帮您联系相关单位。如果您选择通过我们联系相关单位进行送样测试，我们将为您提供以下保障：票正规发票合委托合同保交易担保退不满意退款优优选服务商

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双束系统中场发射扫描电镜主要用于观察、分析和记录材料的微观形貌，聚焦离子束用来对样品进行在纳微米尺度下的切割、刻蚀，透射样品制备及原子探针针尖加工等工作。

电子束:分辨率： ≤1.0 nm@15KV ，≤1.9 nm@1kV；放大倍率：12x ～ 1000kx；离子束:分辨率： ≤ 2.5nm@30kV；放大倍率:300x ～ 500kx.

刻蚀校徽，切割纳米线截面等

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