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热场发射透射电子显微镜(FIELD EMISSION TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE)
重庆大学
德国蔡司公司，Libra 200加速电压200kv；TEM放大倍数8-1000000；
重庆市
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离子减薄仪

检测范围

对材料内部微观结构，组织成分，晶格，颗粒形貌，大小等进行高分辨的观察，可广泛用于半导体，材料科学，生命科学等研究领域。

仪器参数

加速电压：200kv；电子枪：场发射；信息分辨率：＜0.14nm ；点分辨率:<0.24nm;STEM分辨率＜0.3nm；EELS分辨率：＜0.7ev；配有EELS、STEM探头、EDS探头。

仪器特色&服务特色

每年服务科研项目50余项，包括国家自然科学基金项目、973项目等重大重点项目，发表论文40余篇。
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