半导体热特性测试仪
厦门理工学院
Mentor Graphics,T3Ster 2000/100
福建省
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检测范围

T3Ster热测试仪—热测试当中的“X射线”: T3Ster 是MENROT研发制造的先进的热测试仪,用于测试IC、LED、散热器、热管等电子器件的热特性。T3Ster运用先进的JEDEC静态试验方法(JESD51-1),通过改变电子器件的的输入功率,使得器件产生温度变化,在变化过程中,T3Ster测试

仪器参数

最大输出电流10A,输出电压100V,测试延迟时间1微秒,最小采样时间1微秒,测试通道2个。
温度范围:-28~200℃,温度稳定性:±0.01℃;散热功率8W。
充液体积:4.5 L油浴槽体积(W×L×H):≥12cm×14cm×14cm。
配套电源输出电压150V,输出电流10A。
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