仪器介绍
样品要求
检测范围
薄膜的透过率测定，金属片或金属片上薄膜的反射率测定
仪器参数
主要技术参数:
波长范围：190 - 2500 nm
带宽（分辨率）：紫外可见区0.17 nm—5.00 nm步长0.01 nm，近红外区0.20 nm—20.00 nm步长0.04 nm
杂散光：≤0.0001%T, 在220, 340, 和370 nm 按ASTM E-387法测量≤0.0004%T(1420nm处，H2O 1cm 光程)
波长精度：0.15 nm UV/Vis、0.5 nm NIR
波长重复性：≤0.06nm UV/Vis、≤0.1nm NIR。
波长范围：190 - 2500 nm
带宽（分辨率）：紫外可见区0.17 nm—5.00 nm步长0.01 nm，近红外区0.20 nm—20.00 nm步长0.04 nm
杂散光：≤0.0001%T, 在220, 340, 和370 nm 按ASTM E-387法测量≤0.0004%T(1420nm处，H2O 1cm 光程)
波长精度：0.15 nm UV/Vis、0.5 nm NIR
波长重复性：≤0.06nm UV/Vis、≤0.1nm NIR。
样品要求
固体漫反射样品，要求样品表面平整，尺寸大小一般要求不小于3 cm。可测薄膜、片状样品
