高分辨X射线衍射仪(帕纳科锐影,高温XRD)(hr-xrd)
150-600
5个工作日
安徽省
检测项目:
  • 变温XRD(1600℃)
  • 线扫、摇摆 扫描等
  • 掠入射反射xrr
  • 二维倒异空间图RSM
检测条件:
  • 粉末 薄膜 块材
  • 厚度在10~100nm之间
  • 薄膜
- +
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服务保障
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  • 品       牌: PANalytical帕纳科 型       号: Empyrean锐影
  • 样品回收: 收费回寄 前置处理: 收费处理
  • 检测范围:
    高温xrd(室温-1600℃);精度高:5轴样品台、4晶单色器
  • 检测项目:
    变温XRD(1600℃)、线扫、摇摆 扫描等、掠入射反射xrr、二维倒异空间图RSM
  • 检测条件:
    粉末 薄膜 块材、厚度在10~100nm之间、薄膜

样品要求

粉末,薄膜,块体均可

仪器参数

高温xrd(室温-1600℃);薄膜的2theta、摇摆w、phi、psi扫描等,以及掠入射反射xrr鉴定薄膜厚度测试等

样品测试效果图

测试效果图 测试效果图

仪器特色&服务特色

高温xrd(室温-1600℃);粉末,薄膜的2theta、摇摆w、phi、psi扫描等,以及掠入射反射xrr鉴定薄膜厚度测试等。
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