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仪器介绍
结果展示
样品要求
用户评价 (5)
检测范围
高温xrd(室温-1600℃);精度高: 5轴样品台、4晶单色器
仪器参数
高温xrd(室温-1600℃);薄膜的2theta、摇摆w、phi、psi扫描等,以及掠入射反射xrr鉴定薄膜厚度测试等
仪器特色
高温xrd(室温-1600℃);粉末, 薄膜的2theta、摇摆w、phi、psi扫描等,以及掠入射反射xrr鉴定薄膜厚度测试等。
典型测试结果
测试效果图
测试效果图
样品要求
粉末,薄膜,块体均可
满意
好
rapid analysis
测试速度非常快